蔡司EVO 18 分析型掃描電鏡 掃描電子顯微鏡
【品牌故事】
世界知名光學(xué)品牌，可見光及電子光學(xué)的領(lǐng)導(dǎo)企業(yè)----德國蔡司公司始創(chuàng)于1846年。其電子光學(xué)前身為LEO（里奧）,更早叫Cambridge（劍橋），積掃描電鏡領(lǐng)域40多年及透射電鏡領(lǐng)域60年的經(jīng)驗。
CARL ZEISS以其前瞻性至臻完美的設(shè)計融合歐洲至上制造工藝造就了該品牌在光電子領(lǐng)域。自成立至今，一直延續(xù)不斷創(chuàng)新的傳統(tǒng)，公司擁有電鏡制造核心先進(jìn)的專有技術(shù)，隨著離子束技術(shù)和基于電子束的分析技術(shù)的加入、為您提供鎢燈絲掃描電鏡、場發(fā)射掃描電鏡、雙束顯微鏡(FIB and SEM)、透射電子顯微鏡等全系列解決方案的電鏡制造企業(yè)。其產(chǎn)品的高性能、高質(zhì)量、高可靠性和穩(wěn)定性已得到全世界廣大用戶的信賴與認(rèn)可。
【總體描述】
蔡司（ZEISS）推出的 EVO 18鎢燈絲系列掃描電鏡, 具有處理所有類型材料能力的分析顯微鏡為您提供卓越的成像質(zhì)量。配備X射線能譜儀接口，并擁有的X射線幾何條件對所有樣品提供了精確的分析。對于非導(dǎo)體采用電子束襯管技術(shù)也提高了圖像質(zhì)量和分析精度。
【技術(shù)參數(shù)】
分辨率：3.0 nm @ 30 KV (SE 與W)、4.0 nm @ 30 KV (VP with BSD )
加速電壓：0.2-30KV
放大倍數(shù)：5-1000000 x
探針電流：0.5PA-5μA
X-射線分析工作距離：8.5mm 35度接收角
低真空壓力范圍：10-400Pa（選配10-750Pa、LS10:環(huán)掃模式10-3000pa）
工作室：365mm (Φ) x 275 mm (h)
5軸優(yōu)中心自動樣品臺：X=125mm Y=125mm Z=50mm T= -10°- 90° R=360°(l連續(xù))
試樣高度：145mm 試樣直徑：250mm
系統(tǒng)控制：基于Windows 7 的SmartSEM 操作系統(tǒng)
存儲分辨率為32,000 x 24,000 pixels
【產(chǎn)品應(yīng)用】
蔡司（ZEISS） EVO 18鎢燈絲系列掃描電鏡(SEM)廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實時微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測量。
世界知名光學(xué)品牌，可見光及電子光學(xué)的領(lǐng)導(dǎo)企業(yè)----德國蔡司公司始創(chuàng)于1846年。其電子光學(xué)前身為LEO（里奧）,更早叫Cambridge（劍橋），積掃描電鏡領(lǐng)域40多年及透射電鏡領(lǐng)域60年的經(jīng)驗。
CARL ZEISS以其前瞻性至臻完美的設(shè)計融合歐洲至上制造工藝造就了該品牌在光電子領(lǐng)域。自成立至今，一直延續(xù)不斷創(chuàng)新的傳統(tǒng)，公司擁有電鏡制造核心先進(jìn)的專有技術(shù)，隨著離子束技術(shù)和基于電子束的分析技術(shù)的加入、為您提供鎢燈絲掃描電鏡、場發(fā)射掃描電鏡、雙束顯微鏡(FIB and SEM)、透射電子顯微鏡等全系列解決方案的電鏡制造企業(yè)。其產(chǎn)品的高性能、高質(zhì)量、高可靠性和穩(wěn)定性已得到全世界廣大用戶的信賴與認(rèn)可。
【總體描述】
蔡司（ZEISS）推出的 EVO 18鎢燈絲系列掃描電鏡, 具有處理所有類型材料能力的分析顯微鏡為您提供卓越的成像質(zhì)量。配備X射線能譜儀接口，并擁有的X射線幾何條件對所有樣品提供了精確的分析。對于非導(dǎo)體采用電子束襯管技術(shù)也提高了圖像質(zhì)量和分析精度。
【技術(shù)參數(shù)】
分辨率：3.0 nm @ 30 KV (SE 與W)、4.0 nm @ 30 KV (VP with BSD )
加速電壓：0.2-30KV
放大倍數(shù)：5-1000000 x
探針電流：0.5PA-5μA
X-射線分析工作距離：8.5mm 35度接收角
低真空壓力范圍：10-400Pa（選配10-750Pa、LS10:環(huán)掃模式10-3000pa）
工作室：365mm (Φ) x 275 mm (h)
5軸優(yōu)中心自動樣品臺：X=125mm Y=125mm Z=50mm T= -10°- 90° R=360°(l連續(xù))
試樣高度：145mm 試樣直徑：250mm
系統(tǒng)控制：基于Windows 7 的SmartSEM 操作系統(tǒng)
存儲分辨率為32,000 x 24,000 pixels
【產(chǎn)品應(yīng)用】
蔡司（ZEISS） EVO 18鎢燈絲系列掃描電鏡(SEM)廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實時微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測量。
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