蔡司GeminiSEM 500掃描電鏡SEM場發(fā)射掃描電子顯微鏡
蔡司GeminiSEM 500掃描電鏡SEM場發(fā)射掃描電子顯微鏡具有出色的分辨率,在較低的加速電壓下仍可呈現(xiàn)給您更強的信號和更豐富的細節(jié)信息,其創(chuàng)新設計的NanoVP可變壓力模式,甚至讓您在使用時擁有在高真空模式下工作的感覺
更強的信號,更豐富的細節(jié)
蔡司GeminiSEM 500掃描電鏡為您呈現(xiàn)任意樣品表面更強的信號和更豐富的細節(jié)信息,尤其在低的加速電壓下,在避免樣品損傷的同時快速地獲取更高清晰度的圖像。
經優(yōu)化和增強的Inlens探測器可高效地采集信號,助您快速地獲取清晰的圖像,并使樣品損傷降至更低;
在低電壓下?lián)碛懈叩男旁氡群透叩囊r度,二次電子圖像分辨率1 kV達0.9nm,500 V達1.0 nm,無需樣品臺減速即可進行高質量的低電壓成像,
為您呈現(xiàn)任意樣品在納米尺度上更豐富的細節(jié)信息;
應用樣品臺減速技術-(Tandem decel),可在1 kV下獲得高達0.8nm二次電子圖像分辨率;
創(chuàng)新設計的可變壓力模式-NanoVP技術,讓您擁有身處在高真空模式下工作的感覺。