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高精度測量儀器

蔡司GeminiSEM 450掃描電鏡場發(fā)射掃描電子顯微鏡

蔡司GeminiSEM 450掃描電鏡場發(fā)射掃描電子顯微鏡具有出色的易用性設計、更快的響應和更高的表面靈敏度,使其能快速、靈活、可靠地對樣品進行表面成像和分析,充當您的得力助手

更高的速度與靈敏度,更好的成像和分析
1.蔡司GeminiSEM 450掃描電鏡更快的響應和更高的表面靈敏度使其能快速、靈活、可靠地對樣品進行表面成像和分析,簡便、
2.快速地進行EDS能譜和EBSD等分析,同時保持出色的空間分辨率,充當您的得力助手。
3.在EDS能譜和EBSD分析模式下仍保持高分辨率的成像,在低電壓條件下工作時更為優(yōu)異;
4.可快速地對樣品進行大范圍及高質量成像;
5.經優(yōu)化的電子光學鏡筒,減少了工作過程中進行重新校準的復雜流程,節(jié)省成像時間,提高工作效率;
6.無論是不導電樣品、磁性樣品或是其他類型的樣品,無論是高真空或是可變壓力模式,均可實現快速和高質量的成像和分析;

掃描電鏡

掃描電鏡SEM

掃描電鏡SEM

掃描電鏡SEM

掃描電子顯微鏡

掃描電子顯微鏡

SEM掃描電子顯微鏡

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