蔡司Xradia 610 & 620 Versa三維X射線顯微鏡在科研和工業(yè)研究領域為您開啟多樣化應用的新高度?；诟叻直媛屎鸵r度成像技術，Xradia 610 & 620 Versa 大大拓展了亞微米級無損成像的研究界限。采用光學加幾何兩級放大成像架構，可實現(xiàn)大樣品高分辨率成像。閃爍體和光學物鏡耦合技術可實現(xiàn)高襯度和增強的相位襯度成像?；诟叻直媛屎鸵r度，蔡司X射線顯微鏡 Xradia 600 系列 Versa 拓展了無損成像的研究界限，提高研究靈活性，加快研究進展。創(chuàng)新的數(shù)據(jù)采集工作流讓您無需對樣品進行切割即可實現(xiàn)對搜索合發(fā)現(xiàn)的感興趣區(qū)域進行高分辨成像。

產(chǎn)品特點：
1. 三維無損成像
2. 500 nm真實空間分辨率，40nm最小體素
3. 更快的成像速度
4. 大工作距離下高分辨率，可實現(xiàn)不同類型、尺寸樣品多尺度成像
5. 吸收、相位和衍射襯度成像模式
6. 4D 原位成像能力
7. 可升級、拓展和可靠性

應用領域：
1. 材料科學，如三維無損分析
2. 生命科學，如微觀結(jié)構成像
3. 地球科學，如地質(zhì)、油氣、礦產(chǎn)、古生物等三維成像
4. 電子和半導體行業(yè)，如形貌測量及失效分析
5. 原位力學、變溫試驗
6. 衍射襯度成像，實現(xiàn)三維晶粒取向分析