蔡司X射線顯微鏡Xradia 810 Ultra三維顯微鏡
蔡司是全球領(lǐng)先的能在實驗室儀器中提供 50 nm 分辨率無損三維 X 射線成像解決方案的廠商。除吸收襯度和 Zernike 相襯技術(shù)外，蔡司 Xradia 810 Ultra 還運用了改裝自同步加速器的先進光學(xué)器件，用以為研究提供業(yè)界出眾的分辨率和襯度。通過在傳統(tǒng)成像工作流程中加入關(guān)鍵的無損分析步驟，從而讓這款創(chuàng)新型儀器實現(xiàn)了研究領(lǐng)域的突破。
蔡司X射線顯微鏡Xradia 810 Ultra三維顯微鏡能夠利用 5.4 keV 下的更高襯度對大量難于成像的材料進行高分辨率 X 射線成像。借助吸收襯度和相襯技術(shù)來優(yōu)化大量材料的成像，如聚合物、氧化物、復(fù)合材料、燃料電池、地質(zhì)樣品及生物材料等。在先進的同步加速器實驗室內(nèi)首次引入納米級 X 射線成像技術(shù)，蔡司 XRM 開創(chuàng)性解決方案始終讓您走在科學(xué)研究的前列。
通過將納米級 X 射線成像的速度提升一個數(shù)量級，拓展了 XRM 在科學(xué)和工業(yè)領(lǐng)域中的應(yīng)用。對于中心顯微實驗室而言，更快的工作流程意味著有更多的用戶能在更短的時間內(nèi)綜合利用儀器，從而利于擴大 XRM 的用戶群。同樣，您也可以快速地重復(fù)執(zhí)行內(nèi)部結(jié)構(gòu)的四維和原位研究，使這些技術(shù)的應(yīng)用面更廣。在諸如數(shù)字巖石物理技術(shù)等有針對性的應(yīng)用中，Xradia 810 Ultra 可用于評估油氣鉆探的可行性，在數(shù)小時內(nèi)提供測量數(shù)據(jù)來表征關(guān)鍵性參數(shù)，如孔隙度。
蔡司Xradia Ultra新型樣品原位加載臺
三維X射線顯微鏡進行納米級力學(xué)性能原位測試的又一新選擇
進一步了解在三維負載情況下納米結(jié)構(gòu)所發(fā)生的形變
蔡司Xradia Ultra新型樣品原位加載臺利用無損3D成像為您提供出色的納米級的壓縮，拉伸以及壓痕等原位力學(xué)性能測試，可以在負載情況下，實現(xiàn)50納米空間分辨率的研究樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)三維演化過程。了解與局域納米特征相關(guān)的形變和失效如何發(fā)生。為現(xiàn)有的力學(xué)測試方法提供補充，實現(xiàn)深入觀察多個尺度范圍的行為。
蔡司X射線顯微鏡Xradia 810 Ultra三維顯微鏡優(yōu)勢
將納米級力學(xué)性能原位測試功能添加至您的Xradia Ultra 納米級的3D X射線顯微鏡。
能夠獲取樣品在負載情況下50納米空間分辨率的3D圖像
能夠?qū)崿F(xiàn)多種納米級力學(xué)性能測試模式，包括壓縮，拉伸以及壓痕測試
能夠?qū)Πń饘?，陶瓷，?fù)合材料，高分子材料以及生物材料在內(nèi)的多種材料進行分析研究
能夠補充電鏡，微米CT以及一些獨立的檢測設(shè)備等力學(xué)測試手段，實現(xiàn)多尺度下理解材料的性能變化---從原子級和納米級到微米和宏觀尺度。
提供兩種模式，包括了不同大小的力值測量范圍
LS108: 最大力值0.8 N
LS190: 最大力值9 N
可與以下型號顯微鏡兼容：
ZEISS Xradia 800 Ultra
ZEISS Xradia 810 Ultra
Xradia UltraXRM-L200
Xradia nanoXCT-200
工作原理
掃描關(guān)注我們