蔡司工業(yè)CT METROTOM 1500面向未來的無損掃描
十二年來，蔡司工業(yè)CT METROTOM系列一直為質(zhì)量控制提供可靠的CT技術(shù)。第三代計(jì)算機(jī)斷層掃描（CT）系統(tǒng)蔡司METROTOM 1500極好地證明了先進(jìn)可靠的X射線技術(shù)不再是未來的愿景。今天，您可以使用面向未來的質(zhì)量控制。
看得更多。
在第三代系統(tǒng)中，新的3k檢測器可生成更高分辨率的3D體數(shù)據(jù)集，即更多體素可以檢測到更小的缺陷。
掃描更快。
通過檢測器的不同操作模式，掃描時(shí)間可減少多達(dá)75％，同時(shí)獲得與2k檢測器相當(dāng)?shù)捏w素尺寸。
蔡司METROTOM是一種工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)，用于測量和檢查由塑料或輕金屬制成的完整部件。而在利用傳統(tǒng)測量機(jī)測量時(shí)，此類隱藏性的結(jié)構(gòu)信息只有將零件通過費(fèi)時(shí)的層層破壞方能獲得。
輕松且精準(zhǔn)地進(jìn)行多樣化特征檢測
利用蔡司METROTOM 計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)可一次掃描海量的零部件特征。這些測量結(jié)果非常精確，且具可追溯性。和接觸式測量方法不同，蔡司METROTOM工業(yè)CT獲取海量測量點(diǎn)時(shí)，時(shí)間顯著縮短。
GOM Volume Inspect（體積檢測）分析軟件易于使用，甚至適合初學(xué)者，它允許以3D形式進(jìn)行完整的CT數(shù)據(jù)分析。軟件可以精準(zhǔn)地分析幾何形狀、縮孔或內(nèi)部結(jié)構(gòu)和組件。即使是細(xì)微的缺陷也可以通過單個(gè)截面圖像看到，并且可以根據(jù)各種標(biāo)準(zhǔn)自動進(jìn)行評估。您還可以將幾個(gè)組件的體積數(shù)據(jù)加載到項(xiàng)目中，執(zhí)行趨勢分析，并將分析結(jié)果與CAD數(shù)據(jù)進(jìn)行比較。這樣，就可以準(zhǔn)確地確定和記錄組件的質(zhì)量，而上述這些往往都只需一個(gè)軟件即可完成。
蔡司自動缺陷檢測(ZADD)
計(jì)算機(jī)斷層掃描中的人工智能
GOM Volume Inspect中的ZADD附加組件可以可靠，快速，自動地檢測組件中甚至很小和模糊的缺陷，ZADD通過讀取ct掃描圖來檢測，定位和分類缺陷或異常，同時(shí)詳細(xì)分析它們。該軟件插件適用于鑄件，注塑件，電池打印組件和其他應(yīng)用。
汽車、醫(yī)療或制藥行業(yè)的更高質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)通常必須依靠經(jīng)認(rèn)證的CT檢驗(yàn)程序。這將實(shí)現(xiàn)按照VDI/VDE 2630第1.3部分對部件執(zhí)行客觀和符合標(biāo)準(zhǔn)的測量。DAkkS校準(zhǔn)認(rèn)證為全球許多機(jī)構(gòu)所認(rèn)可，可消除多次評估的成本。現(xiàn)在，蔡司工業(yè)CT廠家 ZEISS METROTOM 800和1500系列的計(jì)算機(jī)斷層掃描裝置也獲得了DAkkS校準(zhǔn)認(rèn)證！得益于其優(yōu)勢：節(jié)約成本，為客戶創(chuàng)造更高的信任度。
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在第三代系統(tǒng)中，新的3k檢測器可生成更高分辨率的3D體數(shù)據(jù)集，即更多體素可以檢測到更小的缺陷。
掃描更快。
通過檢測器的不同操作模式，掃描時(shí)間可減少多達(dá)75％，同時(shí)獲得與2k檢測器相當(dāng)?shù)捏w素尺寸。
蔡司METROTOM是一種工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)，用于測量和檢查由塑料或輕金屬制成的完整部件。而在利用傳統(tǒng)測量機(jī)測量時(shí)，此類隱藏性的結(jié)構(gòu)信息只有將零件通過費(fèi)時(shí)的層層破壞方能獲得。
輕松且精準(zhǔn)地進(jìn)行多樣化特征檢測
利用蔡司METROTOM 計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)可一次掃描海量的零部件特征。這些測量結(jié)果非常精確，且具可追溯性。和接觸式測量方法不同，蔡司METROTOM工業(yè)CT獲取海量測量點(diǎn)時(shí)，時(shí)間顯著縮短。
GOM Volume Inspect（體積檢測）分析軟件易于使用，甚至適合初學(xué)者，它允許以3D形式進(jìn)行完整的CT數(shù)據(jù)分析。軟件可以精準(zhǔn)地分析幾何形狀、縮孔或內(nèi)部結(jié)構(gòu)和組件。即使是細(xì)微的缺陷也可以通過單個(gè)截面圖像看到，并且可以根據(jù)各種標(biāo)準(zhǔn)自動進(jìn)行評估。您還可以將幾個(gè)組件的體積數(shù)據(jù)加載到項(xiàng)目中，執(zhí)行趨勢分析，并將分析結(jié)果與CAD數(shù)據(jù)進(jìn)行比較。這樣，就可以準(zhǔn)確地確定和記錄組件的質(zhì)量，而上述這些往往都只需一個(gè)軟件即可完成。
蔡司自動缺陷檢測(ZADD)
計(jì)算機(jī)斷層掃描中的人工智能
GOM Volume Inspect中的ZADD附加組件可以可靠，快速，自動地檢測組件中甚至很小和模糊的缺陷，ZADD通過讀取ct掃描圖來檢測，定位和分類缺陷或異常，同時(shí)詳細(xì)分析它們。該軟件插件適用于鑄件，注塑件，電池打印組件和其他應(yīng)用。
汽車、醫(yī)療或制藥行業(yè)的更高質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)通常必須依靠經(jīng)認(rèn)證的CT檢驗(yàn)程序。這將實(shí)現(xiàn)按照VDI/VDE 2630第1.3部分對部件執(zhí)行客觀和符合標(biāo)準(zhǔn)的測量。DAkkS校準(zhǔn)認(rèn)證為全球許多機(jī)構(gòu)所認(rèn)可，可消除多次評估的成本。現(xiàn)在，蔡司工業(yè)CT廠家 ZEISS METROTOM 800和1500系列的計(jì)算機(jī)斷層掃描裝置也獲得了DAkkS校準(zhǔn)認(rèn)證！得益于其優(yōu)勢：節(jié)約成本，為客戶創(chuàng)造更高的信任度。
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