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三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)
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蔡司三坐標(biāo)掃描測(cè)頭匯總介紹

返回列表 來(lái)源:三本測(cè)量 瀏覽:- 發(fā)布日期:2022-06-29 13:39:08【

測(cè)頭作為測(cè)量傳感器,是坐標(biāo)測(cè)量系統(tǒng)中非常重要的部件。三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的工作效率、精度與測(cè)頭密切相關(guān)。就測(cè)頭結(jié)構(gòu)原理來(lái)說(shuō),測(cè)頭可分為接觸式【觸發(fā)式】和非接觸式兩大類。觸發(fā)式測(cè)量頭又分為機(jī)械接觸式測(cè)頭和感應(yīng)式測(cè)頭;非接觸式測(cè)頭則包括光學(xué)顯微鏡、電視掃描頭及激光掃描頭等。

蔡司三坐標(biāo)掃描探頭和探頭座:

VAST XXT、RDS、ViScan、LineScan、EagleEye navigator、RST-P、VAST XT gold、ROTOS、FalconEye、XDT、CSC、ROTOS等。

蔡司三坐標(biāo)掃描探頭座


用于采集自由曲面的光學(xué)式探頭——ZEISS DotScan

ZEISS DotScan是測(cè)量自由曲面和細(xì)微結(jié)構(gòu)的不二選擇,ZEISS DotScan采用色階共聚焦白光探頭,特別適用于測(cè)量敏感、柔軟、具反射性或低對(duì)比度的表面,因?yàn)閷?duì)于這類表面,探針或相機(jī)傳感器已超過(guò)其能力所及。使用ZEISS DotScan時(shí),具高反射性的表面如膝關(guān)節(jié)植物的金屬部件無(wú)須注入造影劑,即可進(jìn)行掃描。因此,使用此探頭也能區(qū)分透明上漆表層和其下方的金屬層。

ZEISS DotScan


用途多樣靈活

ZEISS DotScan共有三種探頭尺寸,適用于三種不同的測(cè)量范圍:10、 3和1 mm。蔡司測(cè)頭可在一次CNC運(yùn)行期間全自動(dòng)更換,以適用于不同的表面,或改換其他光學(xué)探頭。

關(guān)節(jié)軸每次可移動(dòng)2.5度,可將ZEISS DotScan調(diào)整到垂直于待測(cè)量部件。且由于ZEISS DotScan 1 mm的測(cè)量角度是+/- 30度,因此更大曲率的部件也能測(cè)量,再加上探針的操作模式,使得各種材料都能毫無(wú)問(wèn)題地從各種角度進(jìn)行測(cè)量,配合使用轉(zhuǎn)臺(tái),甚至連4軸的測(cè)量工作也難不倒ZEISS DotScan。

邁向主動(dòng)式掃描技術(shù)——VAST XT gold

在所有需要大型測(cè)針配置和高精度表現(xiàn)的測(cè)量應(yīng)用中,VAST主動(dòng)式探頭系列扮演了至關(guān)重要的角色。VAST XT gold奠定了主動(dòng)式掃描技術(shù)的基礎(chǔ)。


ZEISS VAST XT gold

額外的測(cè)量系統(tǒng)

VAST XT gold額外配備了一套測(cè)量系統(tǒng)。測(cè)量力可根據(jù)測(cè)量任務(wù)進(jìn)行配置,其也可用于一系列的修正程序。

除了主動(dòng)式掃描,此探頭也支持單點(diǎn)測(cè)量:例如,VAST XT Gold讓您能靈活使用復(fù)雜的測(cè)針配置并提供了自動(dòng)定心功能。

一個(gè)探頭,多項(xiàng)應(yīng)用

憑借其高速掃描的能力,VAST XT gold可勝任任何任務(wù):形狀和位罟的測(cè)量、曲線和自由曲面的測(cè)量,以及逆向工程。應(yīng)用范圍涵蓋塑料加工零件、泡沫塑料、制動(dòng)零件、曲柄軸、發(fā)動(dòng)機(jī)和渦輪葉片。


其他蔡司三坐標(biāo)掃描測(cè)頭


三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 接觸式掃描探頭 ZEISS VAST XXT 蔡司三坐標(biāo)探頭

ZEISS VAST XXT

三次元測(cè)量?jī)x 光學(xué)式掃描探頭 ZEISS ViScan蔡司三次元探頭

ZEISS ViScan

三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 光學(xué)式掃描探頭 ZEISS LineScan蔡司三坐標(biāo)探頭

ZEISS LineScan

三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 光學(xué)式掃描探頭 ZEISS EagleEye navigator蔡司三坐標(biāo)

ZEISS EagleEye navigator

三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 接觸式掃描探頭 ZEISS RST-P蔡司三坐標(biāo)探頭

ZEISS RST-P

三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 接觸式掃描探頭 ZEISS ROTOS蔡司三坐標(biāo)粗糙度測(cè)量

ZEISS ROTOS

三次元測(cè)量?jī)x 光學(xué)式掃描探頭 ZEISS FalconEye蔡司三次元探頭

ZEISS FalconEye

三次元測(cè)量?jī)x 接觸式掃描探頭 ZEISS XDT蔡司三次元探頭


ZEISS XDT

三次元測(cè)量?jī)x 三次元探頭座 ZEISS CSC蔡司三次元關(guān)節(jié)式探頭座

ZEISS CSC

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