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三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)
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蔡司metrotom1500電腦斷層掃描測(cè)量機(jī)內(nèi)部缺陷檢測(cè)

返回列表 來(lái)源:三本測(cè)量 瀏覽:- 發(fā)布日期:2023-01-04 15:25:39【
具有復(fù)雜外形的零部件同時(shí)也增加了傳統(tǒng)接觸式或影像測(cè)量機(jī)的難度及耗時(shí)的流程。因此,寶潔位于德國(guó)的質(zhì)量創(chuàng)新中心不斷尋求進(jìn)一步提高產(chǎn)品質(zhì)量及最短的時(shí)間獲取最多產(chǎn)品尺寸與品質(zhì)信息量的解決方案,傳統(tǒng)的接觸式與影像測(cè)量無(wú)法獲取產(chǎn)品內(nèi)部幾何形狀與精確自由曲面信息,更不能實(shí)現(xiàn)非破壞性地分析材料的孔隙率,更重要的是破壞性的檢測(cè)不但耗時(shí)且將導(dǎo)致此樣品不可用于之后的測(cè)試流程。

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解決以上問(wèn)題的zui佳解決方案來(lái)自于蔡司metrotom 1500電腦斷層掃描測(cè)量機(jī)的掃描技術(shù),其實(shí)現(xiàn)了高精度幾何量測(cè)量與CT 掃描技術(shù)的完美結(jié)合,經(jīng)多次成功地為博朗解決技術(shù)問(wèn)題,寶潔質(zhì)量創(chuàng)新中心于2008年2月份開(kāi)始引進(jìn)了蔡司METROTOM 1500高精度CT 測(cè)量機(jī),寶潔也由此成為了蔡司METROTOM 產(chǎn)品的首批客戶(hù)之一,據(jù)博朗的CT 項(xiàng)目經(jīng)理喬琛-馬斯先生所述:“我們豐富的經(jīng)驗(yàn)結(jié)合蔡司的三坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)及無(wú)與倫比的CT 掃描理念使得我們的決策更加容易,這項(xiàng)新技術(shù)無(wú)疑非常成功!”

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在馬斯先生看來(lái),蔡司metrotom 1500 CT 掃描技術(shù)是滿(mǎn)足寶潔要求的最理想精密測(cè)量技術(shù),“不僅如此,CT 掃描技術(shù)令你可以窺視制品內(nèi)部,這在過(guò)去非常困難,傳統(tǒng)的做法是使用合成樹(shù)脂覆蓋于樣品外部并逐層剖切分析。”而由于缺陷通常位于特殊或邊緣位置,實(shí)際仍無(wú)法確認(rèn)缺陷的原因。

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借助蔡司metrotom1500電腦斷層掃描測(cè)量機(jī)掃描測(cè)量技術(shù)后,耗時(shí)復(fù)雜的流程將不再必要,產(chǎn)品可快速進(jìn)行CT 掃描,同時(shí)結(jié)果可在三維體素?cái)?shù)據(jù)中進(jìn)行可視化快速評(píng)定,無(wú)損幾何測(cè)量及缺陷分析,也可用于裝配檢查,若零件有任何失效,通過(guò)CT 掃描也可以快速確認(rèn)故障原因及裝配、材料,生產(chǎn)與設(shè)計(jì)缺陷。簡(jiǎn)易明了可操作性強(qiáng),工程人員可更好地參與進(jìn)產(chǎn)品開(kāi)發(fā)流程。同時(shí),掃描及測(cè)量數(shù)據(jù)可存檔為數(shù)年后的檢測(cè)與溯源分析提供依據(jù),復(fù)檢及使用。

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